年度	2014
全部作者	Ching-Che Chung*, Duo Sheng, and Sung-En Shen
論文名稱	High-resolution all-digital duty-cycle corrector in 65-nm CMOS technology
期刊名稱	IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
卷數	22
期數	5
起頁	1096
迄頁	1105
語言	英文