年度 | 2014 |
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全部作者 | Ching-Che Chung*, Duo Sheng, and Sung-En Shen |
論文名稱 | High-resolution all-digital duty-cycle corrector in 65-nm CMOS technology |
期刊名稱 | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems |
卷數 | 22 |
期數 | 5 |
起頁 | 1096 |
迄頁 | 1105 |
語言 | 英文 |