年度 2014
全部作者 Ching-Che Chung*, Duo Sheng, and Sung-En Shen
论文名称 High-resolution all-digital duty-cycle corrector in 65-nm CMOS technology
期刊名称 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
卷数 22
期数 5
起页 1096
迄页 1105
语言 英文