年度 2014
全部作者 Ching-Che Chung*, Duo Sheng, and Sung-En Shen
論文名稱 High-resolution all-digital duty-cycle corrector in 65-nm CMOS technology
期刊名稱 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
卷數 22
期數 5
起頁 1096
迄頁 1105
語言 英文