年度 2012
全部作者 Jinn-Shyan WANG Pei-Yao CHANG Chi-Chang LIN
論文名稱 Design of 65 nm Sub-Threshold SRAM Using the Bitline Leakage Prediction Scheme and the Non-trimmed Sense Amplifier
期刊名稱 IEICE TRANSACTIONS on Electronics
卷數 E95-C
期數 1
起頁 172
迄頁 175
發表日期 2012-01-01
語言 英文